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- 梅特勒托利多-分析天平
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梅特勒托利多-分析天平技术参数:
型号 zui大称量值
[g]可读性
[mg]重复性(sd)
[mg]线性误差
[mg]典型稳定时间
[s]秤盘尺寸
(W×D)[mm]
XS105DU 41/120 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73 XS205DU 81/220 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73 XS64 61 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73 XS104 120 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73 XS204 220 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73 XS204DR 81/220 0.1/1 0.1/0.7 0.5 3.5/1.5 78×73 DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差
梅特勒托利多-分析天平性能特点:
采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁
丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作
触摸屏(TouchScreen):背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。
网格秤盘(SmartGird):有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。